MPI マニュアル・プローバ
MPI TS150 - 150 mm Manual Probe System
MPI TS200 - 200 mm Manual Probe System
MPI TS300 - 300 mm Manual Probe System
MPI TS200 with Polytec MSA600 Motion System Analyzer
標準オプション・システム
MPI TS150、TS200、TS300マニュアル・プローブシステムはオープンシステムで、高精度でありながら、使いやすく、お求めやすい価格にて提供可能です。これらのシステムでは基板および 150、200、300 mmウエハの高精度な測定が可能です。
故障解析、設計検証およびIC設計, WLR評価、MEMS、 ハイパワーデバイス 、 デバイス特性評価、モデリング などの幅広いアプリケーションの構成に対応可能です。
mmWおよびTHzアプリケーション専用システム
MPI TS150–THZ 研究開発用プローブシステムはサブTHzの周波数帯域で基板 基板および150mmまでのウエハの高精度特性評価を低価格で実現した、マニュアル型システムです。このシステムは非常に安定な構造を持ち、大きなプラテンを保有、かつ低プロファイル設計になっています。 これらの要素は幅広いRFおよびミリ波測定、すなわち広帯域での220GHzまでの測定、1.1THzまでのバンド型での測定、ロードプル、RFノイズ測定などに最適です。
TS150-AIT およびTS200-THZ プローブシステムはTHz周波数領域においてアクティブ・インピーダンス・チューナをプローブシステムに組み込むことができる複合的な測定に最適なシステムです。これらの2つのシステムは150mmあるいは200mmのプローブシステムで、ミリ波、THzおよびプログラマブル型のインピーダンス・チューナを組み合わせて測定する際、測定の精度に大きく関係する、測定系方向性の高いシステムを構成することが可能です。
シールド型システム
MPI TS200-SE および TS300-SE プローブシステムには ShielDEnvironment™ 機構がついており、優れたEMIシールディングおよび光遮蔽が保証されます。これらによりモデリング、デバイス評価で必要となる低雑音オンウエハ測定が可能になります。モジュラー型設計により、MPIのマニュアル型プローブシステムは、多くのアップグレードパスが用意されており、保有コストの削減も図れます。
モデリング、デバイス評価
TS200
TS300
TS150-THZ
TS200-SE
TS150
TS200-THZ
TS300-SE
TS2000-SE
TS3000
TS3000-SE
SiPH Probe System
TS2000
TS2000-IFE
TS150-HP & TS200-HP
TS2000-DP Probe System
TS2000-HP Probe System
TS3000-HP
TS3500-HP
TS2500-DP
TS3500-SE with WaferWallet®
TS2000-IFE with WaferWallet®MAX
TS2500 Series
TS2500-SE
チャックシステム
マイクロポジショナ
DC、RFプローブアーム
顕微鏡
レーザ・カッタ
TITAN™ RFプローブ
RF校正ソフトウェア
RF Calibration Software
RFアクセサリ
校正基板