150 mm Probe Stations | 300mm Probing System | MPI Probe Station | Manual Wafer Prober | Probe Stations | 300 mm Probe Station

Manual Probe Stations | Manual Prober System

300 mm Probe Station | 300mm Probing System

Manual Wafer Prober | Wafer Probe Stations

デバイス特性評価

ハイパワーデバイス対応

RF-mmW

設計検証

故障解析

WLR評価

シリコンフォトニクス

MPI マニュアル・プローバー

Standard Open Systems

MPI TS150、TS200、TS300マニュアル・プローバーはウェハーサイズ マニュアル・プローバーは高精度でありながら、使いやすくお求めやすい価格帯にて提供しております。基板および１５０/２００/３００ｍｍウェハーの高精度な測定が可能です。

 

故障解析, 設計検証およびIC設計, WLR評価、MEMS、 ハイパワーデバイス対応 、 デバイス特性評価、モデリング などを用いたRF測定技術を統合して設計されております。

Manual Probe Station

mmWおよびTHzアプリケーション専用のシステム

MPI TS150-THZ は150ｍｍウェハーのサブTHz領域までの高精度評価に特化したマニュアル・プローバーとなります。大きなプローブ・プラテンを持ちながら、全体的にはコンパクトな設計となっており、コストパフォーマンスも優れています。

150mm Probe System

シールドシステム

MPI TS200-SE 、 TS300-SE プローブシステムには、主に デバイス特性評価、モデリング デバイス評価、WLR、RF/ミリ波測定などのアプリケーションに適した３００mmセミオート・プローバーです。

150mm Probe System

ハイパワー用プローバー

MPI TS150-HP 、 TS200-HP プローブシステムは、10 kVおよび600 Aまでのオンウェーハ高電力デバイスの特性テスト用に特別に設計されています。専用のチャック設計、コネクタ、およびケーブルは、広い温度範囲でパワー半導体の低接触抵抗測定を実現するように設計されています。

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