Probe Card
LCD Driver Probe Card
PC201-1114-FFB81C
Advanced Cobra Probe Card
WAT Parametric Probe Card Low Leakage

ウェハーテストの最適化を実現します

最新ターンキーソリューションで解決いたします

最先端デバイス測定を

Photonics Automation
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Fully Auto Laser Diode Prober

ウエハー、デバイスの先進的自動測定、検査技術

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最先端半導体テストソリューション

研究開発用プローブ・ステーション

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T201-1114-FFB81C.png
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ThermalAir シリーズ 高低温環境試験装置

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高速温度サイクル・テスト

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超高性能プローブカード

最低の所有コストで極限のテスト能力を提供します。

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FCB 1 プローブカード
MPI Photonics Automation 1 フォトニクス・オートメーション
Device Characterization Home 300x230 1 先端半導体テスト
Thermal Test 2 1 300x230 1 サーマルテスト
VC20 for web 2.1 セラドン
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