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設計検証とICエンジニアリング

設計検証とICエンジニアリング

MPIの定義

IC設計検証は現在の半導体製造工程の成功を遂げるための重要な位置づけになっております。

EDA、設計検証ツール、BIST、DFTなどの手法に加えて 半導体製造メーカーはさまざまな手法を用いて初期段階のウェハーの性能を検証しています。研究開発用プローバーと計測器、ATE、専用検証システムなどを組み合わせて設計検証する場合も多くあります。

IC設計検証| プローブシステム| 自動試験装置(ATE)

主な必要性能

ICエンジニアリング及び設計検証の測定においてはパワー・メーターや電源ユニット、オシロスコープ、測定器、などRF、DC測定に合わせて変更していく必要があります。さらに測定条件が多ピン・プローブ・カードでかつ高温、 高インピーダンス、高周波であったりするためさまざまな課題がでてきます。ATEとのケーブル・インタフェースも大きな課題となります。

MPIのソリューション

MPIの 研究開発用プローバー は多様な チャック ・オプション(DC/トライアキシャル/RF、50~300mm、広範囲な温度範囲)からお選びいただけます。 ポジショナーは汎用的なものからハイエンドなものまで、 顕微鏡 も長い作動距離をもった単眼鏡筒顕微鏡にさまざまなオプションを加えるなど、測定用途とご予算にあった一台を提供いたします。

MPIの 高周波プローブキャリブレーション・ソフトウェア QAlibria® を組み合わせていただくことによりXNUMXGHzまでの高精度なRF測定を可能にします。

GSGSG, GSSGデュアル型TITAN™プローブは差動型ICの評価に最適なプローブです。また、MPIは広帯域特性測定が可能なアクティブ・プローブ、オシロスコープでの高インピーダンス測定が可能な高インピーダンス・プローブを用意しております。

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