レーザーセンシングテスト &
計測
STARGAZER LD200-S
データ通信レーザーテスト &
計測
STARGAZER LD200-D
フォトダイオードテスト &
計測
STARGAZER PD200
マイクロLEDテスト &
計測
STARGAZER MT200
STARGAZERフォトニクスデバイステストソリューション
シームレスな統合で、テストの潜在能力を最大限に引き出します
STARGAZER シリーズ フォトニクステストシステムで、テストの可能性を最大限に引き出しましょう。モジュール式のソフトウェアアーキテクチャに基づき、STARGAZER は柔軟に構成でき、特定のテスト要件に合わせてシームレスに統合可能です。
STARGAZER は、センシングレーザーやデータ通信レーザー、フォトダイオード、マイクロ LED など、幅広いフォトニクスデバイスに対応しており、多様な用途に適応します。業界トップクラスのパートナーから提供される高品質な計測機器と統合された当システムは、正確かつ高性能なテストを実現します。
STARGAZER でテストプロセスを簡素化し、効率化しましょう。毎日、信頼性の高い正確な結果を提供します。今すぐ始めて、テストを次のレベルへ引き上げましょう。
主な特長
シーケンス制御
テストシーケンスとパラメータを柔軟に選択・編集可能
生産レポート
直感的なソフトウェア GUI を活用し、ラボや生産現場のレシピを簡単に管理
レシピ管理
DUT(テスト対象デバイス)の特性評価と詳細なウェハーレポートをリアルタイムで提供
シームレスな統合
信頼できるパートナーを通じて選定されたトップクラスのサードパーティ計測機器と統合し、特定のテストニーズに対応
STARGAZER モデルを探索
アプリケーションに最適な STARGAZER モデルと構成をお選びください。すべてのソリューションで、MPI のハードウェアとソフトウェアを、信頼性の高いサードパーティ計測機器とシームレスに統合し、使いやすさと一貫したユーザー体験を提供します。
主な特長 | 説明 |
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センシングレーザーテスト & 計測
STARGAZER LD200-S
主な特長 |
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電流制御 リアルタイムの電流・電圧測定 SMU、パワーメーター、ドライバー IC の統合 |
スペクトル測定 高精度なスペクトル測定 スペクトラムアナライザーまたは分光計の統合 |
近視野パターン (NFP) / M2 特性評価 広視野角 (FOV) を備えた近視野 (NF) レンズ NFP ビームの品質を評価する解析ツール |
遠視野パターン (FFP) 特性評価 可視光、NIR、IR 範囲に対応する遠視野 (FF) レンズ FFP ビームの品質を評価する解析ツール |
データ通信レーザーテスト & 計測
STARGAZER LD200-D
主な特長 |
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電流 / バイアス制御 SMU とパワーメーターの統合 |
LIV / スペクトル測定 メーターを使用した電流・電圧測定 スペクトラムアナライザーまたは分光計の統合 |
近場光型 (NFP) / 遠場光型 (FFP) 特性評估 近視野パターン (NFP) / 遠視野パターン (FFP) 特性評価 ビーム品質を計算するための解析ツール |
高速デバイス特性評価 RFプローブと光VNAを使用したSパラメータ特性評価 相対強度雑音 (RIN) とビットエラーレート (BER) 試験のための試験機器統合 |
フォトダイオードテスト & 計測
STARGAZER PD200
主な特長 |
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IV スイーピング 暗電流 / 光電流の測定 単体DUTおよびマルチDUTのテストのためのSMU統合 |
応答特性 照明源制御 / 光スイッチ / アッテネーター制御 |
キャパシタンス LCR 測定統合 |
高速デバイス特性評価 RF プローブと光 VNA を使用した S パラメータ特性評価 相対強度雑音 (RIN) とビットエラーレート (BER) 試験のための試験機器統合 |
マイクロL ED テスト & 計測
STARGAZER MT200
主な特長 |
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電流制御 SMU とディスプレイドライバーの統合による精密な測定と制御 |
カラーと照明パターン 分光計、カラーメーター、コノスコープの統合 |
均一性 輝度と均一性を解析する専用ツール |
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