光センシングテストソリューション

垂直共振面発光レーザー（VCSEL）に基づく光センシング技術は、多数の消費者向け（顔認識、ジェスチャー検知、拡張現実）および自動車向け（LiDARおよびキャビン内モニタリング）アプリケーションに活用されています。MPIの包括的なテストおよび測定ソリューションポートフォリオは、VCSELに基づく光センシング市場の要求に応える準備が整っています。

MPIの光センシングソリューションは、生産環境およびエンジニアリング環境の要求に適しています。お客様の重要なテストおよびバックエンド処理のニーズに対応する準備が整っています：

- パラメトリックテストおよび測定
- マテリアルハンドリング
- 光学検査
- ウェハレベル信頼性テスト（WLBI）

MPIの光センシングソリューションは、さまざまなVCSELの設計と構成に対応するよう設計されています。

- フロントエミッタ型VCSEL
- リアエミッタ型VCSEL（フリップチップ）
- ウェハ、パッケージ、およびダイレベル

L-I-Vテスト

遠場テスト

近場テスト

自動化

LIV（Light-Current-Voltage）スイープテストは、レーザーダイオード（LD）やVCSELなどのデバイスの動作特性を判定するために使用される基本的な光学測定です。

MPIは、パルスモード（mSからnS）およびCWモードの両方で正確かつ同期した電力および電圧測定を提供するさまざまなソースメジャメントユニット（SMU）の統合に特化しています。

1. 高速ナノ秒テスト機能を備えた計測器の能力
2. 電気的、機械的、熱的なシステム設計により、自己発熱効果、接触抵抗、およびパラサイト効果を最小限に抑えます。
3. 低出力および高出力VCSEL用の積分球を使用した高速光学測定。

遠場測定は、長い作業距離でVCSELアレイの光学的な特性を特定するために使用されます。

MPIは以下に特化しています：

1. 光学システムの設計と統合により、4mmから1.5m以上の作業距離で高品質な遠場画像を実現します。
2. 典型的な遠場光学測定には、以下が含まれます：
  - - 発散角
    - 目の安全性
    - 均一性
    - 効率
3. パネルおよびダイレクトな測定手法の両方がサポートされています。

近場測定は、VCSELアレイの個々のエミッターにおける光パワーやビーム特性を特定するために使用されます。

MPIは以下に特化しています：

1. 1. 光学システムの設計と統合により、5µmから20µmの発光口径を持つVCSELに対して高品質な近場測定を実現します。
  2. VCSELアレイの特性評価（均一性、不良エミッターの検出、合格/不合格のグレーディング）
  3. 光ビームの特性評価：
    - - 数値絞り（NA）
        
        ビーム直径[D4σ（D4シグマ）、D86]
        
        ビーム品質（M2）のシーケンス化された近場イメージングによる測定
  4. 高速光学測定

MPIの自動化テストおよびマテリアルハンドリングソリューションのポートフォリオは、光学センシング製造市場の多様なニーズにすぐに対応します。薄いウエハのハンドリング、デバイスのピックアンドプレース（PnP）、極端な温度テスト、または生産データ管理など、MPIは生産フローを効率化し、製品の収益性を向上させるソリューションを提供します。

MPIは以下に特化しています：

1. 薄ウエハのハンドリングソリューション（非接触ベルヌーイハンドラ、Gel-Pak、キャリア法）極端な温度テスト：
  - - ウエハテスト：-60℃から約200℃まで
    - デバイステスト：0℃から100℃まで
2. 生産テストの自動化およびデータ管理
  - - 複数のテストシーケンスをサポートする柔軟なレシピ設定
    - マルチダイテストのサポート
    - 構成およびテストデータ管理ツール