LED マッピング・ソーター

High Speed Die Sorting 2MPIは新たにLEDマッピング・ソーター シリーズを発売しました。モジュラー構造となっており、お客様それぞれのご要求に見合うようカスタマイズが可能となっております。最先端のピックアンドプレース技術により、高速ダイ・ソーティングを実現し、最高サイクルタイム55m秒/個を可能にしました。8インチウェハー、分類サイズ140mm×140mmまで対応し、独自のXNUMX本の自動選別アームにより生産効率を上げ、高いスループットを実現します。

 

MPIの優れた開発チームはお客様の個々のご要求にあったターンキー・ソリューションを提供するべく多くの企業と製品開発を進めてきました。MPIはこうした活動によりお客様の従事する市場においての競争力を革新的にサポートします

 

MPI LED マッピング・ソーターはいろいろな入出キャリアに対応可能です。MPI LEDマッピング・ソーターはオプションにより、裏面検査(BSI)と組み合わせることができ、製造の歩留まりを従来レベルよりも格段に向上できます。MPI LEDソーターの持つ、高い測定精度と信頼性は、チップ、CSP、GaN、縦型LED、フリップ・チップそしてレーザーダイオードの試験およびソーティングのアプリケーションに最適です。

特長と利点

High Speed Die Sorting 2

卓越した生産性

独自の55本の自動選別アームと超高速リニアモーター駆動を採用し、MPIのLEDマッピング・ソーターは最速20m秒/個、ピックアンドプレース精度 ±20umのチップのソーティングを実現します。

Wafer Frame Ring SM

多用途キャリアハンドリングサポート

MPIのLEDマッピングソーターはチップサイズ0.15mm~2mm、さまざまな 入出キャリア.

Wafer Sorting Cassette 1

最大分類数200!

MPIのLEDマッピング・ソーターはプロセスエラー、オペレータ介入、ダウンタイムの排除など、自動化のためのさまざまな機能を取り入れております。それにより高い生産性、優れた信頼性そして高い稼働時間を保証します。自動化における特徴は、

 

    • 自動ノズル・クリーン
    • 自動ピックレベル教示(エジェクターおよびノズル)
    • 半自動ノズル中心アライメント
    • 自動教示、異なる材料の交換が容易
    • 自動ウエハー転地防止
High Speed Die Sorting 3

すぐれたソフトウエア・アルゴリズム

最大10 カセットまで搭載可能で、最大分類数は200まで対応できます。知的ソフトウェアのアルゴリズムによりお客様のアプリケーションとプロセス要求によりカセット/フレームのさまざまな指定(インプット/アウトプット/ウェハー/バッファ/フル/エンピティ)が可能です。

High Performance LED Mapping Sorter SM

裏面検査機能 (BSI)

オプション機能の裏面検査(BSI)機能を使用することにより歩留まりはさらに改善されます。ソート・プロセス中BSIモジュールはLEDチップの裏面の不良個所(プローブマーク、欠け、ダブルダイ、割れ)を検知します。データはMPI開発のソフトウェア上に保存され、不良の傾向をモニターし製造上の異常を低減し最善の製造品質を実現します。

簡便なソフトウェア

デザインや機能、仕様は装置の構成によって違ってくることがあり、仕様は必ずしもすべて一緒とは限りません。正確なアプリケーション装置が構成されてから決定されるものです。

 

 

MPI独自開発の制御用ソフトウェアは操作が簡単で画面上のナビゲーションにより非常に使いやすくなっております。MPIのLEDソーターは業界標準であるSECS/GEMのインタフェース・プロトコルに対応しております。

さらにMPIフォトニックソリューションをご覧ください

 

MPIは、フォトニクス、光電子学、半導体、およびレーザー産業の要求に応える、幅広いテスト、測定、検査ソリューションのポートフォリオを提供しています。

Optical Communications

光通信

フォトディテクター (PD) やレーザーダイオード(LD)などの光デバイスに対する精密なテストおよび測定ソリュー

Optical Sensing

光センシング

顔認識、ジェスチャー認識、ARなどの3Dセンシングコンシューマーや自動車のLiDARなどの応用に対応する完全なソリューション

Micro Display

マイクロディスプレイ

理想的なマス転送法と組み合わせた正確なプロービングツール

LED

LED

ウエーハからパッケージダイレベルまでのテスト、ソーティング、および検査をカバーする完全なソリューショ

Silicon Photonics

シリコンフォトニクス

再現性の高い低ノイズ測定を行うために設計された専用のSiPH(シリコンフォトニクス)オンウェーハーテスト

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