VEGA シリーズ

高性能のレーザーダイオードプロービングとテストソリューション

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VEGA シリーズの概要

MPI VEGAシリーズは、レーザーダイオード(VCSEL、EEL) および光モジュール市場の多様なテストおよびマテリアルハンドリング要件を満たすことができます。

 

柔軟性と信頼性の高いプラットフォームに基づき、様々なデバイスタイプ (ウェハー・パッケージ・ダイ) の幅広い温度範囲でのテストが可能であり、薄ウェハーおよび反りウェハーにも対応できます。また、複数のプロービングモードも用意しており、優れた針圧設計と組み合わせることにより、高精度の測定データを提供することが可能です。以上のような機能を備えているVEGAシリーズは、LIV、近傍界、遠方界の光学特性の測定を簡単に実行できます。

応用分野

光通信

光通信

光センサ

光センサ

VEGA上面プローバ (TP) シリーズ主な特徴

  • 極端な温度テスト機能 (-40˚C~+200˚C)。
  • 高性能ローダシステムは、薄ウェハー、反りウェハー、通常ウェハー、基板、パッケージまたはその他のデバイスなど、様々なデバイスタイプを簡単に対応できます。
  • LIV、近傍界、遠方界の光学特性を測定するニーズを満たすために、複数の光学機能の選択を用意します。
  • 選択可能な接点機構には、プローブカードホルダ(PCH)、ウェッジプローブカード(Wedge Probe Card)および MPI F1シングルプローブモジュールなどが含まれています。
  • MPIプローバ制御ソフトウェアは、基本的なウェハーアライメント、マッピング、プローブマークの検査から、MPI の高度技術であるNeedle Alignment Mechanism (NAM)まで、包括的な制御機能を提供します。
  • MPIフォトニクス・テストシステムは、ユーザー中心の設計を採用しており、お客様の独自のテスト要件に従って柔軟に調整できます。

柔軟性:複数のテストニーズを満たせるよう、ユーザーは実行中の製品とテストに応じて、柔軟にワークフローを選択または変更したり、パラメータを編集したりできます。
生産管理:直感的で使いやすいソフトウェアインターフェイスを介して、ラボ/生産データを簡単に管理できます。また、統合されたリアルタイムのシステム監視とレポートにより、スムーズで完全に無人のテストプロセスも可能になります。
シームレスな統合:多様なテスト・測定装置を完備しています。更に、MPI テストシステムは主流のサードパーティの測定装置と簡単に接続し、お客様のそれぞれのテストニーズを満たすことができます。

機能

高温

高温

低温

低温

複数の光学機能を選択可能

複数の光学機能を
選択可能

モデル

マニュアル

マニュアル

セミオート

セミオート

フルオート

フルオート

被測定物

VCSEL

VCSEL

PD

PD

VEGA裏面プローバ (FP) シリーズ主な特徴

  • 選択可能な接点機構には、VPC、プローブカードホルダ(PCH)、ウェッジプローブカード(Wedge Probe Card)および MPI F1シングルプローブモジュールなどが含まれています。
  • 様々なテスト要件(LIV、近傍界、遠方界)に応じて、柔軟なシステム構築が可能です。
  • 複数のプロービングモードと光入力/出力方向を選択可能。
    - ウェハー上面プロービング/裏面光学測定
    - ウェハー上面/裏面同時プロービング
  • MPIプローバ制御ソフトウェアは、基本的なウェハーアライメント、マッピング、プローブマークの検査から、MPI の高度技術であるNeedle Alignment Mechanism (NAM)まで、包括的な制御機能を提供します。
  • MPIフォトニクス・テストシステムは、ユーザー中心の設計を採用しており、お客様の独自のテスト要件に従って柔軟に調整できます。

柔軟性:複数のテストニーズを満たせるよう、ユーザーは実行中の製品とテストに応じて、柔軟にワークフローを選択または変更したり、パラメータを編集したりできます。
生産管理:直感的で使いやすいソフトウェアインターフェイスを介して、ラボ/生産データを簡単に管理できます。また、統合されたリアルタイムのシステム監視とレポートにより、スムーズで完全に無人のテストプロセスが可能になります。
シームレスな統合:多様なテスト・測定装置を完備しています。更に、MPI テストシステムは主流のサードパーティの測定装置と簡単に接続し、お客様のそれぞれのテストニーズを満たすことができます。

機能

高温

高温

低温

低温

複数の光学機能を選択可能

複数の光学機能を
選択可能

モデル

セミオート

セミオート

フルオート

フルオート

被測定物

VCSEL

VCSEL

PD

PD

VEGAチップ/ダイプローバ (DP) シリーズ主な特徴

  • VCSELs、EELs、パッケージデバイスなどをテストするために、完璧に設計された幅広い構成オプションを用意します。
  • テストコストを削減するための超高速のプロービングとソートサイクル。
  • 高温から氷点下試験まで幅広い温度範囲に対応可能。
  • 複数の測定ステーションは、テスト要件に応じて、LIV、近傍界、遠方界などの測定パラメータを自由に切り替えることができます。

機能

高温

高温

低温

低温

複数の光学機能を選択可能

複数の光学機能を
選択可能

モデル

セミオート

セミオート

フルオート

フルオート

被測定物

VCSEL

VCSEL

EEL

EEL

PD

PD

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連絡先:pa-sales@mpi-corporation.com
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