Cantilever Probe Cards | High Frequency Probing   |  Cantilever Probe Cards |  Probe Card |  Probe Card | High Frequency Probing |  Cantilever Probe Cards  

MPIカンチレバープローブカード

高い費用対効果のカンチレバー・プローブカード

MPIカンチレバー・プローブカードは、パッドおよび金バンプ・ウェハー・テストにおいて高い評価をいただいております。技術革新を常に追い求め、ウェハーレベル、パッケージ製品の発展とともに狭ピッチ、高速、小パッド、クリーニング頻度の低い、マルチDUT、多ピン、超低雑音といった必要要件を満たす製品開発をおこなっております。

カンチレバー・プローブカード

MPIカンチレバープローブカード部門は、機械的、電気的シミュレーションおよび測定結果に基づいたさまざまな技法、アーキテクチャを取り入れ多くの製品を開発してきました。MPIプローブカード・チームは、 LCDドライバ用プローブ・カードロジック・プローブカードパラメトリック (WAT) スペース CMOSイメージセンサ(CIS)プローブカード.

半導体およびそのパッケージ技術の発展にともないプローブカード産業ではさまざまな課題に直面しています。 これは、ITRS(国際半導体技術ロードマップ)にあるよう、以下のような課題があげられます:

LCD Driver Probe Card - Cantilever Probe Card - Probe Card

LCDドライバ用プローブカード

  • 形状
  • パラレルテスト
  • 高低温プロービング
  • 対象と用途
  • プローブ圧
  • プローブ・クリーニング
  • ハイパワー・デバイス
  • 接触抵抗
  • 高周波プロービング

MPIカンチレバープローブカード部門は、お客様のニーズに合わせて以下の製品とサービスを提供しています

Logic Probe Card - Probe Card - High Frequency Probing

ロジック・プローブカード

  • Geometry: MPI Cantilever Probe Cards are designed and manufactured with excellent peripheral and staggered fine pitch capabilities for small pad size tests
  • パラレルテスト: MPIカンチレバー・プローブカードは、優れたアライメント、プラナリティによりマルチDUT構成のプロービングを簡単に行うことができます。
  • 高低温プロービング: MPIカンチレバープローブカードは、高温または低温試験中の熱変形を軽減する独自の技術を採用しています。
  • プローブ圧の制御: MPIカンチレバープローブカードは、Alパッド、銅パッド、スロット付き銅パッド、Low-kおよびCUPなどのパッド、POACに対応しており、パッド/ILD(層間絶縁膜)のダメージを防ぎます。
Parametric Probe Card | Logic Probe Card | Probe Card | LCD Driver Probe Card | CMOS Image Sensor (CIS) Probe Card | Wafer Probe Cards

パラメトリック(WAT)プローブカード

  • ハイパワーデバイス: MPIカンチレバープローブカードはさまざまなデバイスで使用されており、厳しいCCC(current carrying capability)にも対応しております。
  • 接触抵抗: MPIカンチレバー・プローブカードは、そのプローブ材質と設計により安定した低接触抵抗を実現します。
  • 高周波プローブ: MPIカンチレバー・プローブカードは、R +やU +などのアーキテクチャの使用によりハイスピード・アプリケーションにも対応しております。特に厳しいSI(シグナルインテグリティ)、PI(パワーインテグリティ)要求のあるアプリケーションに適しております。
CMOS Image Sensor (CIS) Probe Card | Parametric Probe Card | Logic Probe Card | Probe Card | LCD Driver Probe Card | Wafer Probe Cards

CMOSイメージセンサ(CIS)プローブカード