LCDドライバ用プローブ・カード
PC201-1114-FFB81C
Advanced Cobra プローブカード
WATパラメトリックプローブカード低漏れ

ウェーハーテストの最適化を実現します

最先端デバイス測定を

最新ターンキーソリューションで解決いたします

PA201-1114-FFB81C
完全自動レーザダイオードプローバ

ウエハー、デバイスの先進的自動測定、検査技術

フォトニクス、光電気デバイス

レーザー、

関連産業

LED製品

ASTスライド3_B_.fw
A201-1114-FFB81C
TS2000-SE.fw
TS3000-SE.fw

最先端半導体テストソリューション

研究開発用プローブ・ステーション

RF

プローブ

Temperature-Forcing-System.fw_-2.png
T201-1114-FFB81C.png
Chamber.fw
Chamber.fw

ThermalAir

シリーズ

高低温温度環境試験装置

温度環境試験チャンバー

高速温度サイクル・テスト

-80℃〜+ 225℃

、省エネ設計

温度範囲:

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MPI TITAN™プローブDC〜220 GHz

AST部門 (プローバー/高周波プローブ)

イベント

先駆的なTITAN™220 GHzプローブは、画期的なVectorStar ME7838G 220 GHzブロードバンドシステムの統合コンポーネントとして、アンリツと協力して開発されました。

MPIが1 / f(Flicker)およびRTN測定用のユニークなNoiseShield™オプションを発表

AST部門 (プローバー/高周波プローブ)

新しい

MPIは新しいNoiseShield™オプションを導入しました。このオプションは、優れたEMIシールド、低インピーダンスの接地、および可能な限り短いケーブル長を提供して寄生容量を減らし、テストシステムのロールオフ周波数を最大化します。

新しいMPI THZ-Selectionで構成されたTS2000-SE

AST部門 (プローバー/高周波プローブ)

新しい

MPI THZ-Selectionは、TS2000-SEシステムを、市場初の専用のミリ波およびテラヘルツプローブステーションに変換します。

新しいMPI ITS25-THZ IMPACT™テストソリューション

AST部門 (プローバー/高周波プローブ)

新しい

可能な限り最高の測定精度で、費用対効果の高いmmWおよびTHZテストを可能にします。

ファクトシートが利用可能になりました。

温度テストのニーズを満たすサーマルアクセサリ

Thermal Test

新しい

MPI Thermalは、ThermalAirユーザーが熱テストワークステーションでコンポーネントやデバイスを柔軟かつ正確にテストするための直感的に機能するアクセサリを豊富に提供します。

MPIサーマルニューサーマルエアーTC-100ガスチラー

Thermal Test

新しい

継続的な-100°Cクリーンドライエアの局所的な温度誘導に焦点を当てた、進化的なThermalAir TC-80ガスチラーを発見してください。

データシートが利用可能になりました。

強化された垂直ソリューション80

プローブカード

新しい

安定したパフォーマンスの利点を享受するためにMPIのEnhanced Vertical Solution 80であなたのデバイスを探ってください。 より効率的かつ効果的に検証する方法の詳細については、お問い合わせください。

MPI、RF IC特性評価用TITAN™マルチコンタクトプローブを発表

AST部門 (プローバー/高周波プローブ)

新しい

MPIコーポレーションは、最新のSi RF ICのテストの課題に対するTITAN™RFプローブ技術のさらなる進歩であるTITAN™マルチコンタクトプローブを紹介します。

フォトニクスオートメーション| サーマル| 高度な半導体テスト

新しい

3月10-12、2020

米国カリフォルニア州サンディエゴコンベンションセンター

ブース番号1901(アドバンスト半導体テスト)

OFC 2020

ブース番号2613(Photonics Automation / Thermal)

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