Characterizing Silicon Photonics | Wafer Prober Machine |  300 mm Probe Station | Probe Station | Manual Probe Station | TS3000-SiPH Automated Probe System | Wafer Probe Testing 

Probe Station | Wafer Prober Machine

Probe Station | 300mm Probing System

Wafer Test |  Characterizing Silicon Photonics  

MPI NoiseShield™

MPI NoiseShield™

MPI ShielDEnvironment™

ShielDEnvironment™付きMPIプローブ・ステーション ShielDEnvironment™ –高性能ローカル環境チャンバー–など TS200-SE, TS300-SE, TS2000-SE, TS3000-SE or TS3500-SE は優れたEMIおよび光シールディング機構を備えており、低雑音環境での測定を実現します。

 

MPI のShielDEnvironment™ 付きプローブ・ステーションのシールディング仕様は実際の測定環境下で定義されたものです。すなわち、ケルビン型DCプローブを1個用いたときの仕様になっており、XNUMX/f雑音、RTN測定を安定に実施できる環境が用意されます。

特長と利点

MPI NoiseShield™ - Extensive Shielding

さらなるシールディング効果

MPIの NoiseShield™ はお客様の低雑音測定をコストを抑え、かつ付加価値の高い形で実現しました。MPI のShielDEnvironment™ と組みあわせることにより、被測定物(DUT)および測定器(プレアンプおよびケーブル、コネクタも含む)に対して優れたEMIシールディング効果を発揮します。

NoiseShield™ オプションはケーブル長を短くして寄生容量を少なくさせ、ロールオフ周波数を最大化することができます。 また、外部からの磁界の影響を最小限化して安定で測定場所に左右されない1/f、RTN測定を実現しました。

MPI NoiseShield™ - Seamless Integration

シームレス・インテグレーション

低インピーダンス・ケーブル、低インピーダンスでのシステムグランディングさらにケルビン型プローブにフェライト・コアを付けてプローバによる影響をいわば透明化しました。その結果、測定器の持つ雑音フロアと同等な低雑音測定がプローブ・ステーション上で可能になりました。

NoiseShield™ はProPlus 9812DX 精密型 LNA との組み合わせを簡単にし、LNAをDUTの近くに置けるようにました。また、DCおよびRFのパッド設計も容易にします。

 

 

詳細につきましてはこちらをご 参照 ください